[IC晶片腳位檢測] 已發表於視覺技術文庫

[IC晶片腳位檢測] 技術文件已發表於視覺技術文庫，歡迎貴客戶登入網站後下載閱讀。本技術文件以Step-by-Step方式完整討論如何應用ALTAIR U系列攝影機+OVK Framework設計出IC晶片腳位瑕疵檢測系統。這樣的檢測系統被廣泛運用於IC產業後段封裝與測試的製程之中。